микроскопия - Свежие новости | |
Представлен метод улучшения атомно-силовой микроскопии
Научные сотрудники Института передовых наук и технологий имени Бекмана представили новый метод для улучшения атомно-силовой микроскопии. Обычно атомно-силовая микроскопия используется для сканирования поверхностей материалов, чтобы получить изображение их высоты. дальше »
2020-6-30 00:01 | |
|